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직선편광판 평가 분광 폴라리메터
Sci-Ral
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100,000nm의 초 고위상차 재료 평가 최적화 분광 폴라리미터
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염색 공정 이후 직선 편광판의 광학적 불균일(투과율, 직선 편광도 등)평가를 근 적외선~가시광선 영역에서 측정하여 편광판의 성능 평가 가능
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점 타입 복굴절 계측기이며 면타입으로 측정하기 힘든 직선 편광판 등을 측정 가능
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기존 계측기의 측정으로는 표현이 어려웠던 시각화 및 정량화 가능
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편광 계측에 필요한 휘도 정보를 10,000fps/sec(최대) 습득 가능
- 측정 항목
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스톡스 파라메터 S0, S1, S2, S3 (S1~S3은 규격화)
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타원율(장단축비)
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편광축
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편광도(DOP, DOLP, DOCP)
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소광비
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- 결과 표시
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그래프 표시(파장 V.S. 파라메터)
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그래프 표시(반복 V.S. 파라메터)
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푸앙카레구 표시
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일러스트 표시
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노광 과다, 부족 경고 표시
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- 측정 기능
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1회 측정
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연속 측정
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일시 정지 측정
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자동 노광 시간 설정
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- 측정 파장 범위
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400~ 800nm
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- 파장 분해능
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< 2nm
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- 파장 데이터 수
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약 1500파장
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- 최단 측정 시간
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약 6초
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- 고정도 측정 시간
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> 20초
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- 측정 정밀도*
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< 2%
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- 반복 정밀도*
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0.005 @ 3σ(각 스톡스 파라메터)
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- 편광축 기준 정도
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±0.2도(측정기 헤드 저면 표시)
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- 측정 원리
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회전 위상자법, 2중 회전법
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- 측정 원리
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2종류의 스톡스 파라메터 측정에 의한 분석
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- 측정 파장 분해능
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스톡스 벡터 측정에 준함
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- 측정 시간
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최단 5초, 표준 45초 이상
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- 위상차 측정 범위
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0~λ/2nm
분석 기능으로 최대 10만nm
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- Fastaxis측정 범위
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±90도
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- 반복 정밀도
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λ/360nm이하(위상차)
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